-
Thông tin E-mail
mary_wang@edcc.com.cn
-
Điện thoại
13810654275
-
Địa chỉ
Phòng 1010, Tòa nhà Vũ khí 69, Đường Tử Trúc, Quận Hải Tinh
Bắc Kinh Oriental Defi Instrument Co, Ltd
mary_wang@edcc.com.cn
13810654275
Phòng 1010, Tòa nhà Vũ khí 69, Đường Tử Trúc, Quận Hải Tinh
Sensofar đã phát triển thành công công nghệ plu mới vào năm 2004, kết hợp thuận lợi công nghệ lấy nét liên hợp và giao thoa trong một đầu cảm biến, * không cần tháo rời phần cứng, * không cần tháo rời phần cứng, chỉ cần chuyển đổi từ phần mềm, khá thuận tiện cho người dùng, công nghệ như vậy đã được trao giải thưởng phát minh trong tạp chí Photonics Spectra năm 2004.
Sản phẩm SensofarQuang học 3D ProfilerSneoxVới độ nhám, đo chiều cao của lớp AFM, phương pháp đo không tiếp xúc * sẽ không làm hỏng bề mặt mẫu, dễ sử dụng và có thể nhanh chóng có được kết quả đo lường.
3 Chế độ chuyển đổi bằng phần mềm
Đồng tập trung:
Đồng tập trung được phát triển để đo lường các bề mặt từ phẳng đến thô. Bằng cách quét dọc bề mặt, tiêu điểm của đối tượng quét qua bề mặt mẫu để tìm chiều cao tương ứng của mỗi pixel trên bề mặt. Các đường viền co-focus cung cấp độ phân giải cực cao với độ dốc mẫu lên đến 71 độ.
Giao thoa ánh sáng trắng:
Giao thoa ánh sáng trắng VSI (Vertical Scanning Interferometers) đã được sử dụng trong các phép đo bề mặt trong một thời gian bằng cách sử dụng các sọc giao thoa quét qua bề mặt của vật thể để phát hiện vị trí của cường độ lớn của các sọc giao thoa để phác thảo toàn bộ hình dạng bề mặt.
Giao thoa chênh lệch pha là một ứng dụng mới trong đo giao thoa, được sử dụng đặc biệt để đối phó với các mẫu có chênh lệch cao thấp rất nhỏ, chênh lệch thấp hơn 200 nm của mẫu, hoặc độ nhám rất phẳng rất phù hợp để đo bằng chế độ này.
Lớp phủ đa tiêu cự:
Công nghệ chồng chất đa tiêu dùng để đo hình dạng bề mặt rất thô. Dựa trên kinh nghiệm của Sensofar trong việc áp dụng công nghệ co-focus và giao thoa, tính năng này được thiết kế đặc biệt để đáp ứng nhu cầu đo co-focus thấp. Ưu điểm của công nghệ này là tốc độ nhanh (mm/s), quét phạm vi rộng và hỗ trợ độ dốc lớn (lên tới 86 °). Chức năng này đặc biệt hữu ích cho việc đo phôi và khuôn.
Quang học 3D ProfilerSneoxCông nghiệp áp dụng:
LCD、IC、LEDs、Sillicon、 Pin mặt trời, lỗ hổng khiếm khuyết, chất bán dẫn, da, giấy, đo thô, tem, đo độ dày màng, bóng thiếc, kim cương